XH-3207低能γ放射性碘沾污測量儀

一、XH-3207低能γ放射性碘沾污測量儀儀器簡介

    XH-3207 ¹²⁵I, ¹³¹I碘表面污染測量儀，采用閃爍探測法，一種便攜式低能γ放射性沾污測量儀。用以檢測放射性工作場所和實驗室的工作臺面、地板、墻面、手、衣服、鞋等表面受¹²⁵I或¹³¹I放射性污染的程度。對醫院涉及放免藥盒、同位素示蹤等使用低能γ放射性同位素的場所，是*的防護測量儀。

    本儀表為液晶顯示小型可攜儀表，儀器顯示測量結果時發出音響訊號。液晶顯示高壓值和電池欠壓提示。電路采用微分測量法，可將入射的¹³¹I放射性對¹²⁵I污染測量的影響減小到小程度。

二、XH-3207低能γ放射性碘沾污測量儀主要指標

計數容量：0～9999 cps

定    時：1～60＂，默認2＂

測量范圍：¹²⁵I ：0～9999 cps

¹³¹I ：0～9999 cps

γ能量范圍：¹²⁵I：25～65Kev；¹³¹I： 364Kev

表面活度響應

用探測效率表示：¹²⁵I≥50%  本底≤5Hz

             ¹³¹I≥10%  本底≤30Hz

相對固有誤差：≤±25%

變異系數：儀表對于隨機的統計漲落而產生的示值變異系數＜±10%。

電池壽命：在正常使用條件下5#電池三節一次能連續使用12ｈ（背光關閉）；采用3.7V充電電池可連續20h（背光關閉）

高溫誤差：儀器在45±2℃條件下，通電4小時，其測量誤差≤±20%.

低溫誤差：儀器在-8±2℃條件下，通電4小時，其測量誤差≤±20%.

潮濕誤差：儀器在相對濕度為95±3%（40±2℃）條件下，不通電放置48小時，其測量誤差≤±10%（因溫度引起的誤差除外）

工作環境：

環境溫度：-10～+55℃

相對濕度：≤95±3%（40±2℃）